Все документы // ГОСТы, СНиПы, РД, ПБ, СП, ОР, СТО... // 17 Метрология и измерения. Физические явления // ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки